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| getLight-DHc - Compact Deuterium and Halogen Light Source | |
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 Demande d'information
La getLight-DHc est une source lumineuse deutérium-halogène compacte pour des applications UV/VIS/NIR. La lampe au tungstène et la source au deutérium sont disposées de telle sorte dans la trajectoire du faisceau lumineux que l'on peut les brancher au spectromètre par raccordement SMA avec une seule fibre de verre. La source lumineuse est utilisable dans le domaine spectral de 200-1700 nm. La getLight-DHc dispose d'un obturateur électronique TTL intégré qui permet la mesure automatique du signal de référence à l´obscurité. Un câble SubD15 sera nécessaire pour piloter le spectromètre.
Spécification technique:
| | Lampe deutérium | Lampe halogène |
| Plage spectrale | 200 - 400 nm | 400 - 1700 nm |
| Stabilité | < 1mAU | < 1mAU |
| Temps de chauffe | 8 min | 1 min |
Puissance optique à la sortie
d’une fibre de 600 µm | 0.2 µWatt | 7 µWatt |
| Durée de vie de l’ampoule | 1000 heures | 2000 heures |
| Plage de température | 5°C - 35°C |
| Alimentation | 12VDC / 600mA |
| Dimensions | 175 x 110 x 44 mm |
Réponse spectrale de la source getLight-DHc:
Application « Caractérisation des couches minces » :
Une couche mince est une fine pellicule d'un matériau déposée sur un autre matériau, appelé « substrat ». Le but de la couche mince est de donner des propriétés particulières à la surface de la pièce tout en bénéficiant des propriétés massives du substrat (en général : tenue mécanique). Parmi les techniques de caractérisation qui permettent d’atteindre une connaissance approfondie des matériaux fonctionnels, et d’envisager leur optimisation en vue d’applications, les techniques de spectrométrie UV/visible sont des méthodes éprouvées, simples et rapides, qui fournissent des informations sur la nature chimique, les propriétés physico-structurales, et les caractéristiques optiques des matériaux.
Les modes de vibration caractéristiques d’un composé peuvent aussi être mis en évidence par spectrométrie UV/visible. Cette méthode est particulièrement bien adaptée pour l’identification, l’étude, et le dosage d’espèces en solution liquide. Dans l’exemple ci-dessous, la réaction de décomposition photocatalytique est mise en évidence par une diminution progressive de la bande d’absorption. La spectrométrie UV/visible permet également l’analyse de routine de films minces destinés à des applications en optiques ou en microélectronique (estimation du gap de films semi-conducteurs, des pertes optiques par diffusion ou absorption d’un dépôt, ...).
Mesure précise de l’épaisseur et des indices réel et complexe du dépôt de couches minces optiques déposées sur substrat transparent (mesure en transmission) ou non (mesure en réflexion) par l’exploitation des franges d’interférence produites par les réflexions multiples aux interfaces film/air et film/substrat. Obtention de la courbe de dispersion d’indice en fonction de la longueur d’onde pour des couches suffisamment épaisses et/ou présentant un indice suffisamment élevé grâce au nombre et à l’intensité des franges d’interférence.
Avec l’appareillage fourni de getSpec.com vous pouvez analyser des couches minces de 10 nm - 50µm à résolution de 1 nm.
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Dernier changement 08/16/2007
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